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WLCSP探针头

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WLCSP探针头

WLPC探针头

史密斯英特康利用弹簧探针技术研发出Wafer Level Chip Scale Package Probe Heads(晶圆级芯片封装探针头,简称“WLCSP”)。其测试表现高度平行,拥有良好的信号完整度和完美应对高速/射频测试的能力。

Semiconductor Test
Volta系列探针头 

Volta晶圆级芯片测试座

Volta系列探针头性能高,且易于维护及成本低,是悬臂和垂直探针卡技术的优质替代方案。