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Kelvin 弹簧探针

  • 芯片器件触点间距:0.35mm 间距及以上
  • 工作温度范围:-55°C 至 120°C
  • 适用芯片封装:BGA、WLCSP、QFN
  • 针到针尖端距离为 0.07mm-0.14mm
  • 插拔次数:>500,000
  • 创新的斜面偏移尖端允许更紧密的中心,距芯片引脚中心低至 0.125 毫米

史密斯英特康最新研发的创新且稳健的Kelvin(开尔文)弹簧探针技术,适用于低至 0.35 毫米间距的Kelvin测试应用。该探针独特的凿尖设计为物联网、汽车,手机芯片等关键应用测试提供可靠、稳定的接触电阻,实现精准的测量性能。

 Kelvin 探针头设计应用于标准阵列测试插座或Volta 晶圆级别探针头( Volta WLCSP) ,提供稳健、易于维护、长寿命的测试解决方案。此外,Kelvin探针使用史密斯英特康专有的均质合金进行优化,增加探针使用寿命,以提供适用于量产的测试解决方案。 利用史密斯英特康先进的制造能力和设备,Kelvin探针的针尖间距仅为 70μm,PCB板Pad的间距为 250μm。Kelvin系列涵盖 0.35 毫米及以上的芯片器件引脚间距。随着行业对精密模拟、电源和 RF 测试的要求不断提高,史密斯英特康对我们的 Kelvin 产品系列进行了创新,以提供最准确的测试,以实现尽可能高的测试良率。

Pitch

0.35mm

(Full Matrix)

0.40mm

(Full Matrix)

0.40mm

(QFN Pad)

0.50mm

(Full Matrix)

Tip to Tip

(Device)

0.07mm0.07mm0.10mm0.14mm

Pin to Pin

(PCB)

0.25mm0.25mm0.40mm0.35mm
Pin P/N851-1003350-H00623-0248-H13101851-001

 

  • 适用于 0.35mm 间距及以上的应用
  • 用于低电阻电源和模拟测试的四线制测量
  • 易于维护
  • 出色的信号完整性
  • 自清洁