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老化测试插座

加速寿命测试(老化测试)

史密斯英特康提供丰富的测试插座产品选择,可满足最新封装器件包括QFN、LGA、BGA和μBGA的老化、湿度、故障分析等测试要求。

我们严格把控生产过程,为客户提供高质量、经济高效的测试插座解决方案,并实现快速交付。

无论客户的封装是否与我们现有产品目录中的插座完全匹配,还是需要重新定制产品,我们都能够为客户提供合适的测试解决方案。

Semiconductor Test

R系列H-Pin®测试插座

R系列产品线用于生产开顶式插座,此系列插座性能可靠,适用于加速寿命测试。