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Lab-Flex® T系列

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Lab-Flex T 相位稳定度达到PPM级

Lab-Flex®T电缆是针对在温度和机械弯曲期间需要最小相变的测试条件的最终解决方案。固态PTFE电缆绝缘体通常在-40至+ 85°C范围内具有4000 ppm。对于低损耗PTFE电缆,在相同温度范围内,预期可接近1800 ppm。我们的新型Lab-Flex®T电缆因为其中独特的绝缘体拥有更低的ppm,介于400和600之间。这种材料不仅限制了绝缘体的膨胀和收缩,而且在我们的100T设计中,在室温(环境温度)下性能非常平稳。由于其独特的设计结构,Lab-Flex®T还具有优于标准低损耗电缆的相位弯曲特性。

  • 高达50 GHz
  • 比固体电介质低40%的损耗
  • 卓越的屏蔽效能
  • 焊接套管直至外编织层,具有出色的可靠性
  • 不锈钢连接器
  • 相位匹配对和可用组(标准容差为每GHz±1度或+/- 2.8皮秒)
  • 镀银铜导体

Lab-Flex®T产品是一种低损耗,高频率的电缆,在温度和弯曲度方面拥有最小的相位变化。接近室温的相位相应几乎是平坦的,在更宽温度范围测试:如在-40° C到85° C,相位变化仅为600ppm。在挠曲过程中,相位也非常稳定,使得该产品成为任何需要信号时序一致性的应用的理想选择。

Family Specifications

Family Data Sheet

Labflex-T-Family-Sheet

  • 测试电缆
  • 低损耗跳线
  • 高频互连件
  • 移动及固定卫星通信系统
  • 仪表
  • 天线系统
  • 电信系统