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Joule 20射频芯片测试插座

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Joule 20射频芯片测试插座
  • 插入插槽,匹配现有的PCB插槽尺寸
  • 极短的信号路径,可提供高达20 GHz的高带宽
  • 芯片和PCB之间的接触电阻非常低,从而提高了测试良率
  • 高频能力确保信号完整性和可靠性
  • 散热能力支持从-40°C到+125°C
  • 接触寿命长,最多插拔次数可达到500,000次

Joule 20射频芯片测试插座是一款出色的刮擦接触式射频芯片测试插座,适用于几乎所有大于0.30mm pitch的QFN,QFP, SOIC类芯片的测试需求。其创新的产品结构设计,可以提供出色的信号完整性和更好的机械性能。同时独特的产品设计也使得产品更加易于清洁和维护。从而提高了生产效率并减少测试停机时间。Joule 20的独特的刮擦式接触技术可提供重复可靠的DUT和PCB端接触,无论是Matte Tin还是NiPdAu工艺,PCB端的磨损也更小。

Joule 20射频芯片测试插座适用于极其严苛的模拟、射频,无人驾驶等测试应用,提供出色的电气和机械耐久性能。史密斯英特康(Smiths Interconnect)的功能涵盖设计,验证,RF仿真,测量,生产经过严格的管控,确保产品满足客户要求。

机械性能

  • 适用封装:QFN, QFP, SOIC
  • 适配引脚间距:0.3毫米以上
  • 接触针工作高度: 0.75mm
  • 接触点行程:0.24〜0.26mm
  • 接触力:40〜45 Grams
  • 触点共面度:0.05mm
  • 刮擦长度:<0.13mm
  • 工作温度:-40°C〜125°C
  • 插座材料:聚酰亚胺
  • 接触针寿命: 500K +
  • > 300K @室温,> 250K @ 125°C,250K @ -40°C
  • 测试座外壳寿命= 3000K +

电气性能

  • 接触电阻:<30 mOhms @ 500K
  • 最大电流:8 Amps
  • 插入损耗(GSG):20 GHz @ -1dB
  • 回波损耗(GSG):20 GHz @ -10dB