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半导体测试

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提供全球最全面、基于弹簧探针技术的标准解决方案,包含:接触器、连接器、插入器、半导体测试座和ATE接口。我们经市场认证的高品质的标准和定制产品将完美解决客户的特定需求。

Semiconductor Test
DaVinci 112

DaVinci 112高速测试插座

DaVinci 112测试插座扩展了 "DaVinci "系列产品线,为测试ASIC(特定应用集成电路)的复杂功能提供了创新的测试解决方案。

DaVinci微型测试插座

DaVinci微型测试插座

随着信息技术的进步,手机、平板电脑甚至汽车触摸屏等移动设备拥有越来越复杂的芯片系统(SoCs)。

Galileo Test Socket

Galileo导电橡胶测试插座

(伽利略)是一款出色的“快速周转且通用”的应用导电橡胶技术的测试插座,提供行业领先的电气性能和快速的交付周期。

Kelvin 弹簧探针

史密斯英特康最新研发的创新且稳健的Kelvin(开尔文)弹簧探针技术,适用于低至 0.35 毫米间距的Kelvin测试应用。

Volta 系列探针头

Volta 晶圆级芯片封装探针头

Volta180系列探针头具有极短的信号路径,低接触电阻,且易于维护,是传统的悬臂和垂直探针卡技术的优质替代方案。

半导体测试插座 周边三档温控测试

周边三档温控测试 - 摄氏度系列

Celsius测试插座主要采用摩擦触点技术,非常适合QFN(方形扁平无针脚封装)测试。弹性体仅确保接触针和测试板具有良好接触,使得测试座在极端温度循环测试条件下仍能保证稳定的接触力和可靠性。弹性体仅确保接触针和测试板具有良好接触,使得测试座在极端温度循环测试条件下仍能保证稳定的接触力和可靠性。弹性体仅确保接触针和测试板具有良好接触,使得测试座在极端温度循环测试条件下仍能保证稳定的接触力和可靠性。

堆栈封装测试芯片 - Euclid系列

堆栈封装测试芯片 - Euclid系列

Euclid堆栈封装(PoP)芯片测试座在设计受益于多种验证工具,确保芯片上下两端同时接触和对正。此外,该系列还考虑到了测试环境的热变形、应力以及公差产生的影响。

热管理测试盖解决方案

热管理测试盖解决方案

史密斯英特康为客户提供高价值的热管理测试盖解决方案,采用气态冷却或液态冷却技术,能够耗散高达650瓦的功率。我们的解决方案经优化可与现有的测试硬件兼容,实现轻松简单的集成,从而降低测试设置时间和总成本。

阵列封装测试座

阵列封装测试座

Smiths Interconnect IDI的阵列封装测试座具有行业内领先的设计和制造品质。本公司的弹簧探针产品组合和设计标准系列种类齐全,灵活度高,综合成本低,交货准时。

半导体测试插座 测试阵列高速 - DaVinci系列

阵列高速 - DaVinci系列

DaVinci插座采用了革新性IM材质,实现了针尖到针尖的真正同轴结构,因此在高频,兼容性接触器中的直通率达到行业领先。